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技術(shù)文章

2023
9-19

截面紋影成像深度解析材料內(nèi)部的奧秘
截面紋影成像是一種重要的研究材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)與特性的非破壞性檢測(cè)技術(shù)。通過(guò)此技術(shù)，可以觀察材料截面的結(jié)構(gòu)、組分、缺陷等信息，為科學(xué)研究和工程應(yīng)用提供了有力的支撐。本文將深入探討截面紋影成像技術(shù)的原理、應(yīng)用和未來(lái)發(fā)展方向。截面紋影成像技術(shù)基于電子、光學(xué)或其他輻射的相互作用原理，對(duì)材料內(nèi)部進(jìn)行觀察和分析。其中，主要的技術(shù)包括透射電子顯微鏡（TEM）、掃描電子顯微鏡（SEM）、透射光學(xué)顯微鏡、X射線顯微鏡等。這些技術(shù)通過(guò)與材料相互作用，生成相應(yīng)的影像，用以研究樣品的結(jié)構(gòu)、組成及性質(zhì)。透...
2023
8-20

粒子圖像測(cè)速儀有哪些優(yōu)點(diǎn)？
粒子圖像測(cè)速儀（PIV）是一種非接觸式激光光學(xué)測(cè)量技術(shù)，用于研究和診斷流動(dòng)，湍流，微流體，噴霧霧化和燃燒過(guò)程。PIV系統(tǒng)主要包含時(shí)序控制器、計(jì)算機(jī)及PIV應(yīng)用軟件、圖像記錄儀、光學(xué)照明系統(tǒng)等四大部分，用光學(xué)方法對(duì)氣流、液流場(chǎng)內(nèi)部進(jìn)行流動(dòng)測(cè)量和結(jié)構(gòu)研究，是傳統(tǒng)的流動(dòng)顯示技術(shù)的發(fā)展成果。高頻PIV是流體力學(xué)研究中發(fā)展方向，時(shí)間分辨率PIV:高頻TR-PIV受益于CMOS相機(jī)技術(shù)的進(jìn)步，以全分辨率下高達(dá)25600fps（每秒幀數(shù)）的幀速率獲得高分辨率PIV圖像。粒子圖像測(cè)速和粒徑測(cè)...
2023
8-15

光子多普勒測(cè)速儀的選型要掌握以下內(nèi)容
光子多普勒測(cè)速儀是基于多普勒效應(yīng)原理設(shè)計(jì)的一種測(cè)速裝置。它利用激光器發(fā)射出的高頻光束，通過(guò)與移動(dòng)目標(biāo)表面反射后的光束進(jìn)行干涉，測(cè)量出目標(biāo)的運(yùn)動(dòng)速度。根據(jù)多普勒效應(yīng)，當(dāng)物體靠近光源時(shí)，反射回來(lái)的光的頻率比入射光的頻率高；而當(dāng)物體遠(yuǎn)離光源時(shí)，反射回來(lái)的光的頻率比入射光的頻率低。通過(guò)測(cè)量頻率的變化，我們可以得到物體的速度。光子多普勒測(cè)速儀具有非常高的測(cè)量精度，可以準(zhǔn)確地測(cè)量物體的速度，尤其適用于高速和微小尺寸的目標(biāo)。無(wú)需直接接觸被測(cè)物體，只需要通過(guò)激光束進(jìn)行遠(yuǎn)距離測(cè)量，不會(huì)對(duì)被測(cè)物...
2023
8-11

簡(jiǎn)單介紹彩色紋影儀的應(yīng)用與魅力
在現(xiàn)代科技的推動(dòng)下，各種先進(jìn)的設(shè)備和工具不斷涌現(xiàn)，為我們帶來(lái)了更多便利和創(chuàng)新。其中，彩色紋影儀作為一種精密測(cè)量設(shè)備，在許多領(lǐng)域中展示出其的應(yīng)用價(jià)值。本文將介紹彩色紋影儀的定義、原理、特點(diǎn)以及其在科學(xué)研究、藝術(shù)設(shè)計(jì)和工業(yè)制造等方面所帶來(lái)的益處。彩色紋影儀是一種高精度光學(xué)測(cè)量設(shè)備，能夠?qū)崟r(shí)捕捉并記錄物體表面微小變形產(chǎn)生的干涉圖案。該設(shè)備利用光源對(duì)物體進(jìn)行照射，并通過(guò)接收反射或透射回來(lái)的光線來(lái)生成干涉圖案。通過(guò)對(duì)這些干涉圖案進(jìn)行處理和分析，可以獲取物體表面形貌和變形信息。與傳統(tǒng)測(cè)量...
2023
8-8

紋影儀的用途有哪些？
流場(chǎng)密度的變化與介質(zhì)折射率有線性關(guān)系，密度的變化直接反映為折射率變化。折射率的變化將引起光線的偏折，從而引起像面照度的變化，形成不規(guī)則的明暗條紋。利用這一原理進(jìn)行折射率變化的測(cè)試即為紋影技術(shù)，該技術(shù)可用于觀察氣體介質(zhì)、液體及透明固體材料中由于火花放電、爆炸、流動(dòng)、受力所引起的物理運(yùn)動(dòng)過(guò)程。紋影儀(光學(xué)流場(chǎng)顯示儀)是采用紋影方法顯示透明介質(zhì)密度和溫度分布在介質(zhì)中折射率變化的通用光學(xué)流場(chǎng)顯示儀器，為研究分層流、多項(xiàng)流、超聲速流、傳熱與傳質(zhì)，自然與強(qiáng)迫的燃燒、火焰、爆炸，等離子體、...
2023
7-30

反射式光彈儀的兩種形式介紹
常用的反射式光彈儀有兩種形式：一種的光學(xué)元件作V形布置，稱為”字形反射式光彈性儀；另一種則作T形布置，稱為直角式反射式光彈性儀。兩種反射式光彈性儀的特點(diǎn)都是光線兩次通過(guò)光敏薄層。這樣，用反射式光彈性儀觀察到的等色線相當(dāng)于材料的敏感度提高了一倍。目前生產(chǎn)的反射式光彈儀都向小型、輕型和自動(dòng)化方向發(fā)展。有的反射式光彈儀已發(fā)展成有多種專用附件，如用于動(dòng)態(tài)應(yīng)力分析的頻閃燈、電影攝影機(jī)及光敏檢測(cè)和記錄設(shè)備；用于精密的逐點(diǎn)測(cè)量的各種補(bǔ)償器；用于斜射的各種裝置等。數(shù)碼光彈儀采用光學(xué)靈敏性材料...
2023
7-27

數(shù)碼光彈儀解讀物體表面的微小振動(dòng)
數(shù)碼光彈儀是一種先進(jìn)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備，通過(guò)利用激光束對(duì)物體表面進(jìn)行掃描和監(jiān)測(cè)，可以精確地測(cè)量物體在微觀尺度下的振動(dòng)和變形情況。本文將介紹數(shù)碼光彈儀的原理、工作方式以及其在多個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用。一、數(shù)碼光彈儀基于三角測(cè)量原理，使用激光束照射到物體表面，并通過(guò)相機(jī)記錄激光點(diǎn)在圖像上的位置。根據(jù)這些位置信息以及已知參數(shù)，可以計(jì)算出物體表面上各點(diǎn)的位移和變形情況。這種技術(shù)主要依賴于激光線性衍射效應(yīng)和相機(jī)成像處理。二、工作方式：標(biāo)定：為了獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，首先需要對(duì)數(shù)碼光彈儀進(jìn)行標(biāo)定。通過(guò)...
2023
7-18

光纖探針爆速測(cè)量?jī)x—超越傳統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)高效測(cè)量
在當(dāng)今科技快速發(fā)展的時(shí)代，精準(zhǔn)、高效的測(cè)量設(shè)備對(duì)于各行各業(yè)都起著至關(guān)重要的作用。其中一款備受矚目的儀器是光纖探針爆速測(cè)量?jī)x。本文將介紹這種先進(jìn)設(shè)備的原理、功能和應(yīng)用領(lǐng)域。光纖探針爆速測(cè)量?jī)x利用了最新的光學(xué)和計(jì)算機(jī)技術(shù)來(lái)進(jìn)行快速而準(zhǔn)確的測(cè)量。其主要由兩部分組成：可移動(dòng)式探頭和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)?？梢苿?dòng)式探頭包含一個(gè)微型鏡頭和一個(gè)靈敏度高的光電傳感器，通過(guò)使用光纖將信號(hào)傳輸?shù)綌?shù)據(jù)采集系統(tǒng)中進(jìn)行處理。該裝置具有多項(xiàng)出色功能。首先，它能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)非常小尺寸或曲面形狀物體上特定區(qū)域內(nèi)涌入或噴...
2023
7-12

走進(jìn)光學(xué)干涉儀：探索精密測(cè)量的奇妙世界
1.光學(xué)干涉儀是什么？光學(xué)干涉儀是利用光束之間的相互干涉現(xiàn)象進(jìn)行測(cè)量和分析的裝置。它基于波動(dòng)性理論，通過(guò)將兩個(gè)或多個(gè)光路上反射或傳播過(guò)程中產(chǎn)生的光束疊加在一起，并根據(jù)相位差來(lái)獲得被測(cè)物體表面形貌、薄膜厚度、折射率等信息。2.工作原理與分類常見(jiàn)的幾種典型光學(xué)干涉儀包括馬赫-曾德?tīng)枺∕ichelson）、白居易（Fizeau）、擴(kuò)展大比例（ESPI）以及激光自由空間雨滴法等。其中，馬赫-曾德?tīng)柛缮鎯x是最常見(jiàn)和基礎(chǔ)的類型，利用分束器將光源分成兩個(gè)相干光路，在反射或傳播過(guò)程中與被測(cè)物...
2023
6-29

一起來(lái)了解光學(xué)干涉儀的原理
光學(xué)干涉儀是一種利用光的干涉現(xiàn)象來(lái)測(cè)量長(zhǎng)度、厚度、折射率等物理量的儀器，測(cè)量原理是利用光的波動(dòng)性和干涉現(xiàn)象，通過(guò)測(cè)量光程差的變化來(lái)測(cè)量物體的形狀和表面特征。光程差是指兩束光在傳播過(guò)程中所經(jīng)過(guò)的光程差異，它是由物體表面形狀和折射率的變化所引起的。當(dāng)兩束光相遇時(shí)，它們會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，干涉圖樣的形狀和大小與光程差有關(guān)，通過(guò)測(cè)量干涉圖樣的變化，可以得到物體表面的形狀和特征。光學(xué)干涉儀的基本組成部分包括光源、分束器、反射鏡、光程差調(diào)節(jié)器和檢測(cè)器。在工作時(shí)，光源發(fā)出的光線經(jīng)過(guò)分束器分成兩...

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